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김진국

Kim, Jingook
Integrated Circuit and Electromagnetic Compatibility Lab.
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DC Field Value Language
dc.contributor.assignee 울산과학기술원 -
dc.contributor.author 김진국 -
dc.date.accessioned 2024-01-23T18:07:36Z -
dc.date.application 2019-02-13 -
dc.date.available 2024-01-23T18:07:36Z -
dc.date.registration 2019-09-11 -
dc.description.abstract 본 발명은, 양산되는 집적 회로의 동작 변수의 산포에 의한 성능 변수의 제1 확률 밀도 함수를 획득하는 과정과, 상기 집적 회로의 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 제2 확률 밀도 함수를 획득하는 과정과, 상기 집적 회로의 상기 성능 변수의 분포 특성을 통합적으로 확률 해석하기 위하여, 상기 제1 확률 밀도 함수와 상기 제2 확률 밀도 함수를 컨볼루션하는 과정을 포함하는, 집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법을 제공한다. -
dc.identifier.patentApplicationNumber 10-2019-0016834 -
dc.identifier.patentRegistrationNumber 10-2023096 -
dc.identifier.uri https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/69501 -
dc.title.alternative Method for integrated probability analysis of performance indicators of mass-produced integrated circuits -
dc.title 양산되는 집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법 -
dc.type Patent -
dc.publisher.country KO -
dc.type.iprs 특허 -

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