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Sampling rate의 다차원 이산화 기법을 응용한 고장 감지 성능에 미치는 영향 분석

Baek, Sujeong , Kim, Duck Young

Conference Paper Issue Date2015-04-09 View7
향상된 신뢰성 예측을 위한 최적 중도절단시험 계획

권대일 , 신인선 , 박주영

Conference Paper Issue Date2015-02-27 View8
궤도 이미지 패턴 인식을 통한 회전기기의 이상 진단

정해동 , 민형철 , 이승철 , 구재량 , 배용채

Conference Paper Issue Date2015-02-26 View6
궤도 고유치의 기계학습을 통한 회전기기의 Anomaly Detection

민형철 , 정해동 , 이승철 , 이상진

Conference Paper Issue Date2015-02-26 View4
임베디드 피드백 컨트롤 시스템에 대한 시뮬레이션 기반의 FMEA 와 통계 적 Fault Tree 분석

Baek, Woonsang , Baek, Sujeong , Kim, Duck Young

Conference Paper Issue Date2015-02-05 View11
시뮬레이션 기반의 식품 제조 공정 개선 연구

Park, Jin Woo , Kim, Duck Young , Cho, Yong Ju

Conference Paper Issue Date2015-02-05 View24
Remote Laser Welding System Navigator for Eco and Resilient Automotive Factories

Kim, Duck Young

Conference Paper Issue Date2014-82-00 View4
임피던스 분석을 이용한 솔더 조인트의 실시간 수명 예측 방법 연구

Kwon, Daeil

Conference Paper Issue Date2014-11-14 View7
3D 프린팅 제품 및 부품의 신뢰성 평가를 위한 가속 실험 설계

Ha, Sangho , Han, Hweeyoung , Yoon, Jeongah , Kim, Namhun , Kwon, Daeil

Conference Paper Issue Date2014-11-12 View20
적층 공정에서의 상태 기반 모니터링

민형철 , 이영곤 , 정해동 , 박승태 , 이승철

Conference Paper Issue Date2014-10-30 View13
다차원 이산화 파라미터의 결함진단 성능에 미치는 민감도 분석

Baek, Su Jeong , Kim, Duck Young , Baek, Woon Sang

Conference Paper Issue Date2014-10-30 View4
신경망을 이용한 패턴인식 기반 원격 레이저 용접의 결함 추정

Kezia, Amanda Kurniadi , Ryu, Kwang-Yeol , Kim, Duck Young

Conference Paper Issue Date2014-10-29 View5
Statistical Forecasting of Material Demand through Big Data Analysis

Kwon, Daeil , None

Conference Paper Issue Date2014-10-14 View10
Advances and Challenges in PHM Based Risk Assessment of Electronics Systems

Kwon, Daeil

Conference Paper Issue Date2014-08-25 View8
유럽에서의 미래제조시스템 연구 (H2020 Factories of the future 2020 중심으로)

Kim, Duck Young

Conference Paper Issue Date2014-08-20 View6
Prognostics of Electronics based on Big-data Analytics and Physics-of-Failure Modeling

Kwon, Daeil

Conference Paper Issue Date2014-05-22 View4
풍력 발전기 기어박스 지능형 결함 예측, 진단 시스템

이승철

Conference Paper Issue Date2014-04-24 View7
Knowledge Based Risk Assessment for Electronic Products and Systems Based on Probabilistic Use Condition

Kwon, Daeil

Conference Paper Issue Date2014-04-03 View9
이벤트 시간 정보를 이용한 장비 이상 진단

이승철

Conference Paper Issue Date2014-02-13 View8
PDF Estimation 과 Dempster-Shafer theory 를 이용한 레이저용접 결함검출 기법

Oh, Rocku , Kim, Duck Young

Conference Paper Issue Date2014-02-13 View8
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