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- Park, Hyung Wook
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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.assignee | 울산과학기술원 | - |
| dc.contributor.author | 박형욱 | - |
| dc.date.accessioned | 2024-01-23T20:09:03Z | - |
| dc.date.application | 2013-07-19 | - |
| dc.date.available | 2024-01-23T20:09:03Z | - |
| dc.date.registration | 2014-11-04 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 PMMA 소재 표면에 대면적 전자빔을 조사하여 PMMA 소재의 투명도를 개선하기 위한 대면적 전자빔 조사를 통한 PMMA 소재 투명도 증진방법에 관한 것이다. 본 발명은 (a) PMMA 소재의 표면에 전자빔이 조사될 수 있도록 상기 PMMA 소재를 작업대에 배치시키는 단계와; (b) 상기 PMMA 소재의 표면에 상기 전자빔이 조사될 수 있도록 전자빔이 방사되는 전자빔장치를 배치시키는 단계와; (c) 상기 전자빔장치를 동작시켜 상기 PMMA 소재 표면에 전자빔을 조사하여 상기 PMMA 소재 표면을 폴리싱하는 단계;를 포함하는 대면적 전자빔 조사를 통한 PMMA 소재 투명도 증진방법을 제공한다. |
- |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2013-0085463 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1460229 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/71615 | - |
| dc.title.alternative | METHOD OF IMPROVING THE TRANSPARENCY OF THE PMMA MATERIAL THROUGH LARGE-AREA ELECTRON BEAM IRRADIATION | - |
| dc.title | 대면적 전자빔 조사를 통한 PMMA 소재 투명도 증진방법 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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