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이종훈

Lee, Zonghoon
Atomic-Scale Electron Microscopy Lab.
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DC Field Value Language
dc.contributor.assignee 울산과학기술원 -
dc.contributor.author 손승우 -
dc.contributor.author 이종훈 -
dc.date.accessioned 2024-01-23T20:06:15Z -
dc.date.application 2015-06-03 -
dc.date.available 2024-01-23T20:06:15Z -
dc.date.registration 2016-09-22 -
dc.description.abstract 본 발명은 파단면이 형성된 시편의 파단면을 분석하기 위한 시편 제조방법으로서, 파단면을 메울 수 있도록 시편의 파단면이 형성된 측면으로 겔(Gel)상태 또는 액상 상태의 코팅물질을 코팅하여 코팅층을 형성하는 단계, 코팅층을 경화시키는 단계 및 코팅층이 파단면의 표면을 따라 설정된 두께 범위로 형성되도록 시편의 표면을 식각하는 단계를 포함하는 시편 제조방법을 제공한다.

따라서 파단면에서 좁은구역(Narrow area)이나 음영구역(Shading area)을 포함하는 파단면 전체에 골고루 코팅물질이 코팅되기 때문에 시편 제작 시 파단면의 손상을 방지하여 파단면을 안정적으로 보호할 수 있다.
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dc.identifier.patentApplicationNumber 10-2015-0078575 -
dc.identifier.patentRegistrationNumber 10-1660705 -
dc.identifier.uri https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/71350 -
dc.title.alternative Manufacturing method of specimen -
dc.title 시편 제조방법 -
dc.type Patent -
dc.publisher.country KO -
dc.type.iprs 특허 -

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