전자 기기의 고장 예측 장치 및 이를 이용한 고장 예측 방법

Abstract

본 발명은 기기의 고장 예측 장치 및 이를 이용한 고장 예측 방법 에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 고장 예측 장치를 이용한 고장 예측 방법에 있어서, 고장 예측 방법은 대상 기기로부터 측정된 성능 파라미터에 대한 시계열 데이터를 입력받는 단계, 기 설정된 범위에 대응하는 복수의 심볼들로 상기 시계열 데이터를 부호화하는 단계, 상기 부호화된 시계열 데이터의 심볼들간 전이 확률을 연산하고, 상기 전이 확률에 따른 전이 행렬을 생성하는 단계, 상기 전이 행렬과 기 저장된 데이터 베이스의 차이 값인 이상 지표 및 이상 지표의 상승치를 연산하는 단계, 그리고 상기 이상 지표의 상승치와 기 설정된 임계치를 비교하고, 비교 결과 상기 이상 지표의 상승치가 기 설정된 임계치보다 크면 상기 대상 기기의 고장이 발생할 것으로 예측하는 단계를 포함한다.

이와 같이 본 발명에 따르면, 대상 기기나 시스템에 대한 물리적 분석이나 이론적 배경 없이 측정된 데이터만으로도 대상 기기나 시스템의 고장 징후를 사전에 정확히 예측할 수 있다. 또한, 부호화한 데이터를 이용함으로써 고장 징후의 예측에 필요한 연산량을 줄였으며, 이로 인해 고가의 연산 장비등을 이용하지 않더라도 고장 징후를 미리 예측할 수 있다.