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- Kim, Namhun
- UNIST Computer-Integrated Manufacturing Lab.
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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.assignee | 울산과학기술원 / ㈜아이티스타(ITSTAR) / ㈜유피시앤에스(UPC&S) | - |
| dc.contributor.author | 김동철 | - |
| dc.contributor.author | 양희종 | - |
| dc.contributor.author | 이윤재 | - |
| dc.contributor.author | 김남훈 | - |
| dc.contributor.author | 오영광 | - |
| dc.date.accessioned | 2024-01-23T19:36:59Z | - |
| dc.date.application | 2014-12-03 | - |
| dc.date.available | 2024-01-23T19:36:59Z | - |
| dc.date.registration | 2016-09-08 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명에 따른 전처리한 열화상 이미지를 이용한 실러 도포 품질 검사 방법은 실러 도포 품질 검사 장치가 열화상 이미지 데이터를 전처리하여 실러 도포에 대한 품질을 검사하는 방법에서, 열화상 카메라로 실러 도포 부분을 촬영한 열화상 이미지를 수집하는 단계, 수집된 상이 열화상 이미지를 전처리하는 단계, 그리고 전처리된 상기 열화상 이미지를 분석하여 실러 도포 작업에 대한 품질 검사를 실시하는 단계를 포함한다. | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2014-0172368 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1658221 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/70946 | - |
| dc.title.alternative | DEVICE AND METHOD FOR INSPECTING QUALITY OF SEALER COATING USING THE PREPROCESSING THERMAL IMAGE | - |
| dc.title | 전처리한 열화상 이미지를 이용한 실러 도포 품질 검사 장치 및 방법 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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