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- Kim, Namhun
- UNIST Computer-Integrated Manufacturing Lab.
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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.assignee | 울산과학기술원 / ㈜아이티스타(ITSTAR) | - |
| dc.contributor.author | 김동철 | - |
| dc.contributor.author | 양희종 | - |
| dc.contributor.author | 윤성호 | - |
| dc.contributor.author | 유아름 | - |
| dc.contributor.author | 김남훈 | - |
| dc.date.accessioned | 2024-01-23T19:36:53Z | - |
| dc.date.application | 2013-08-08 | - |
| dc.date.available | 2024-01-23T19:36:53Z | - |
| dc.date.registration | 2015-03-30 | - |
| dc.description.abstract | 생산 공정에서 데이터마이닝을 이용하여 제품 상태를 예측하는 장치 및 방법에 관한 것으로, 생산 공정 내에서 품질에 영향을 미치는 요인에 해당하는 공정 인자와 공정 인자에 대한 결과에 해당하는 양품 및 불량품에 대한 품질 변수를 입력 받아 '인자'-'품질' 간의 관계를 나타내는 온톨로지를 생성하고, 생성된 온톨로지에 기초하여 관측하고자 하는 관측 지점을 결정하고, 생산 공정을 통해 실시간으로 관측 지점별로 공정 인자의 관측 좌표와 측정 데이터를 입력받고, 입력된 관측 좌표 및 측정 데이터에 대한 비선형 값들을 선형 분리하고, 상기 분리된 선형 값들에 기초하여 SVM 학습을 수행하고, SVM 학습 결과로부터 현재의 공정 상태를 예측하며, HMM을 이용하여 상기 온톨로지 및 이력 데이터로부터 현재의 측정 데이터에 기반한 최적 공정 인자를 산출함으로써, 산출된 최적 공정 인자를 사용자에게 제공하여 공정의 변화를 유도한다. | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2013-0094284 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1508641 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/70935 | - |
| dc.title.alternative | Apparatus and method for predicting product condition by using datamining in manufacturing process | - |
| dc.title | 생산 공정에서 데이터마이닝을 이용하여 제품 상태를 예측하는 장치 및 방법 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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