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- Kim, Taesung
- Microfluidics & Nanomechatronics Lab.
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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.assignee | 울산과학기술원 | - |
| dc.contributor.author | 남현문 | - |
| dc.contributor.author | 김태성 | - |
| dc.date.accessioned | 2024-01-23T19:36:35Z | - |
| dc.date.application | 2016-11-15 | - |
| dc.date.available | 2024-01-23T19:36:35Z | - |
| dc.date.registration | 2017-06-07 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은, 나노 파티클들을 이용하여 대상물에 단층의 나노 구조를 가지는 광결정을 형성하는 인쇄 모듈과, 상기 광결정에 광을 조사하는 광원모듈과, 상기 광이 조사된 상기 광결정으로부터 방출되는 반사광을 감지하여 감지 정보를 생성하는 반사광 감지모듈 및 상기 감지 정보를 기 저장된 위조 감별 정보와 비교하여, 상기 대상물의 위조 여부를 판단하는 위조여부 감별모듈을 포함하는 위조 감별 장치를 제공한다. 따라서, 나노 입자의 자기제어조립방식으로 단층 구조를 형성하여 제조공정이 간소화되는 효과가 있다. |
- |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2016-0151981 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1746511 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/70899 | - |
| dc.title.alternative | Apparatus and method for detecting counterfeit | - |
| dc.title | 위조 감별 장치 및 방법 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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