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- Kim, Ju-Young
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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.assignee | 울산과학기술원 | - |
| dc.contributor.author | 김주영 | - |
| dc.contributor.author | 김시훈 | - |
| dc.contributor.author | 김영천 | - |
| dc.date.accessioned | 2024-01-23T19:36:05Z | - |
| dc.date.application | 2016-06-15 | - |
| dc.date.available | 2024-01-23T19:36:05Z | - |
| dc.date.registration | 2017-05-15 | - |
| dc.description.abstract | 본 발명은 메인프레임, 엑추에이터와, 엑추에이터와 연결되는 로드셀을 포함하는 시험부, 시험부와 연결되고 나노 재료시편의 상부 일측을 클램핑하는 상부지그와, 상부지및의 하부에 위치하고 나노 재료시편의 하부 일측을 클램핑하는 하부지그를 포함하는 지그부, 하부지그와 연결되어 하부지그를 상방지지하고, 다축방향으로 이동하여 하부지그를 다축방향으로 이동시키는 스테이지부, 나노 재료시편의 전면에 이격되게 위치하여 나노 재료시편의 전면방향 얼라인먼트를 확인할 수 있도록 하는 제1얼라인먼트부, 나노 재료시편의 측면에 이격되게 위치하여, 나노 재료시편의 측면 이미지를 통하여 나노 재료시편의 측면방향 얼라인먼트를 확인할 수 있도록 하는 제2얼라인먼트부 및 제어부를 포함하는 재료 시험 장치를 제공한다. 따라서 나노 스케일의 시편도 장착이 용이할 뿐만 아니라, 인장시험을 비롯하여 압축시험 및 벤딩시험도 가능하여 나노 시편의 다양한 물성을 측정할 수 있다. |
- |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2016-0074575 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1737817 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/70827 | - |
| dc.title.alternative | Nano material testing apparatus and method for testing material using the same | - |
| dc.title | 재료 시험 장치 및 이를 이용한 재료 시험방법 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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