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- Lee, Zonghoon
- Atomic-Scale Electron Microscopy Lab.
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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.assignee | 울산과학기술원 | - |
| dc.contributor.author | 이종훈 | - |
| dc.contributor.author | 최명기 | - |
| dc.contributor.author | 김정화 | - |
| dc.contributor.author | 김강식 | - |
| dc.date.accessioned | 2024-01-23T18:38:03Z | - |
| dc.date.application | 2017-08-25 | - |
| dc.date.available | 2024-01-23T18:38:03Z | - |
| dc.date.registration | 2019-02-01 | - |
| dc.description.abstract | 그래핀 인장 시험 방법은 그래핀 시편의 두께 및 면적을 확인하는 단계, 상기 그래핀 시편을 겔층에 부착하는 단계, 상기 그래핀 시편이 부착된 상기 겔층에 제1 온도로 가열된 인장 지그를 부착하는 단계, 상기 인장 지그를 상기 제1 온도 대비 더 높은 제2 온도로 가열하여 상기 겔층을 기화시켜 상기 그래핀 시편을 상기 인장 지그에 지지시키는 단계, 및 상기 인장 지그를 이용해 상기 그래핀 시편을 인장하여 인장 하중에 따른 상기 그래핀 시편의 변위(displacement)를 확인하는 단계를 포함한다. | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2017-0108128 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-1947155 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/70050 | - |
| dc.title.alternative | GRAPHENE TENSILE TESTING MEHOD | - |
| dc.title | 그래핀 인장 시험 방법 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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