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김진국

Kim, Jingook
Integrated Circuit and Electromagnetic Compatibility Lab.
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양산되는 집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법

Alternative Title
Method for integrated probability analysis of performance indicators of mass-produced integrated circuits
Author(s)
김진국
Application Date
2019-02-13
Registration Date
2019-09-11
Application No.
10-2019-0016834
Publication No.
10-2023096
URI
https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/69501 Go to Link
Abstract
본 발명은, 양산되는 집적 회로의 동작 변수의 산포에 의한 성능 변수의 제1 확률 밀도 함수를 획득하는 과정과, 상기 집적 회로의 공정 변수의 산포에 의한 상기 성능 변수의 제2 확률 밀도 함수를 획득하는 과정과, 상기 집적 회로의 상기 성능 변수의 분포 특성을 통합적으로 확률 해석하기 위하여, 상기 제1 확률 밀도 함수와 상기 제2 확률 밀도 함수를 컨볼루션하는 과정을 포함하는, 집적 회로의 성능 지표를 통합적으로 확률 해석하는 방법을 제공한다.

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