Pin point effect(laser가 focusing되는 지점에서 최대 Raman Back Scattering intensity 발생하는 효과)를 통하여서 국부적인 plasma 진단 가능성을 연구하였다. Raman Back Scatter intensity에 관한 1D 이론을 2D에 적용하기 위하여 X-mode dispersion relation에 따르는 주파수 변화를 2D PIC code로 일치하는 것을 확인하였다. 또한 변화된 주파수에서 Raman Back Scatter intensity가 최댓값이 나오는 것을 발견 하였다. 이 결과와 1D 이론을 사용하여 2D Raman Back Scatter intensity를 modeling하였다. modeling한 이론을 활용하여 pin point effect가 나타나는 조건들을 계산하여 제시하였다.