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박형렬

Park, Hyeong‐Ryeol
Laboratory for Ultrafast & Nanoscale Plasmonics
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DC Field Value Language
dc.citation.endPage 787 -
dc.citation.number 7 -
dc.citation.startPage 781 -
dc.citation.title New Physics: Sae Mulli -
dc.citation.volume 68 -
dc.contributor.author Lee, Hyoung-Taek -
dc.contributor.author Lee, In-Hee -
dc.contributor.author Park, Hyeong‐Ryeol -
dc.date.accessioned 2023-12-21T20:36:58Z -
dc.date.available 2023-12-21T20:36:58Z -
dc.date.created 2019-03-07 -
dc.date.issued 2018-07 -
dc.description.abstract 박막의 제작은 다양한 연구 및 산업에서, 예를 들면, 반도체 기술 뿐 아니라 생명 공학적 기술에서 많은 응용이 되고 있다. 박막을 더 얇게, 그러면서 품질이 우수하게 만드는 기술은 아직도 중요한 기술적인 문제들이 남아 있는 미지의 연구 분야이다. 특히 금속 박막을 만드는 기술은 나노 광학의 영역에서 많이 사용되며, 얇고 전도도가 크고 (비저항이 작고) 흡수율이 큰 (투과율이 작은) 금속 박막에서 광 집속 현상 및 다양한 표면 플라즈몬 현상이 보다 더 잘 관찰된다는 것으로 알려져 있다. 본 연구에서는 나노 구조물 제작 등 다양한 분야에서 자주 사용되는 금속 박막의 증착 조건을 변화시켰을 때 금속 박막의 품질이 어떻게 달라지는지 전기적, 광학적 분석을 통해 알아보았다. 실제로, 진공도의 차이보다는 펌핑 시간이 박막의 품질에 영향을 크게 미쳤음을 알 수 있었다. 더 좋은 품질의 금속 박막 샘플을 제작하기 위해서는 항상 10$^{-10}$ torr의 진공이 잡혀있는 메인 챔버 외에 추가로 시료를 위한 보조 챔버가 있는 전자 빔 증착기를 이용해야 한다. -
dc.identifier.bibliographicCitation New Physics: Sae Mulli, v.68, no.7, pp.781 - 787 -
dc.identifier.doi 10.3938/NPSM.68.781 -
dc.identifier.issn 0374-4914 -
dc.identifier.scopusid 2-s2.0-85052020786 -
dc.identifier.uri https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/26284 -
dc.identifier.url http://www.npsm-kps.org/journal/view.html?volume=68&number=7&spage=781&year=2018 -
dc.language 한국어 -
dc.publisher 한국물리학회 -
dc.title.alternative 전자 빔 증착기의 증착 조건에 따른 50 nm 두께 구리 박막의 전기적 특성 및 광학적 특성 -
dc.title Dependences of the optical and the electrical properties of 50 nm thick copper films deposited by using an electron beam evaporator on the evaporator’s vacuum conditions -
dc.type Article -
dc.description.isOpenAccess TRUE -
dc.identifier.kciid ART002370882 -
dc.type.docType Article -
dc.description.journalRegisteredClass scopus -
dc.description.journalRegisteredClass kci -
dc.subject.keywordAuthor Electron beam evaporator -
dc.subject.keywordAuthor Metal deposition -
dc.subject.keywordAuthor Resistivity -
dc.subject.keywordAuthor Spectroscopy -
dc.subject.keywordAuthor Thin film -

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