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Bien, Franklin
Bien’s Integrated Circuit Design Lab (BICDL)
Research Interests
  • Wireless Power Transfer(WPT), touch screen, finger print, RADAR, RF IC.

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프레스 판넬의 결함 검출 장치 및 그 방법

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Title
프레스 판넬의 결함 검출 장치 및 그 방법
Other Titles
Defect Detection Apparatus of Panel and Method Thereof
Author
황재련김병훈정찬우ZHENYI LIU김슬기롬유현기변영재NGOCQUANG NGUYEN
Country
KO
Application Date
2014-10-02
Registration Date
2016-09-01
Application No.
10-2014-0133224
Registration No.
10-1655214
Abstract
본 발명은 프레스 판넬의 결함 검출 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 본 발명의 실시예에 따른 프레스 판넬의 결함 검출 장치는 검출 대상인 프레스 판넬로부터 프레스 과정에서 방출된 탄성파 신호를 감지하는 음향 방출 센서부, 상기 감지된 신호 중에서 문턱전압보다 큰 신호가 연속적으로 나타나는 구간인 주기를 측정하는 주기 측정부, 그리고 상기 측정된 주기가 제1 기준값보다 큰 경우 상기 프레스 판넬에 결함이 발생한 것으로 판단하고, 상기 측정된 주기가 상기 제1 기준값보다 작은 제2 기준값보다 작은 경우 상기 프레스 판넬을 정상 상태로 판단하는 결함 여부 판단부를 포함한다. 이와 같이 본 발명에 의하면, 프레스 판넬의 결함 검출 장치 및 그 방법을 이용함으로써, 프레스 가공 과정에서 발생한 결함을 간단하게 검출할 수 있고, 결함 유무 판단이 모호한 검출 대상은 매개변수를 이용하여 더 정확하게 결함 발생 여부를 판단할 수 있다.
URI
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https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/20808
Classification
전자부품,영상,음향및통신장비제조업; 전기전자; 반도체및기타전자부품제조업; 전자제품
Appears in Collections:
EE_Patents
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