| 2021-05 | Overview of KAGRA: Calibration, detector characterization, physical environmental monitors, and the geophysics interferometer | Akutsu, T.; Ando, M.; Arai, K.; Arai, Y.; Araki, S.; Araya, A.; Aritomi, N.; Asada, H.; Aso, Y.; Bae, S.; Baiotti, L.; Bajpai, R.; Barton, M. A.; Cannon, K.; Cao, Z.; Capocasa, E.; Chan, M.; Chen, C.; Chen, K.; Chen, Y.; Chiang, C-Y; Chu, H.; Chu, Y-K; Eguchi, S.; Enomoto, Y.; Flaminio, R.; Fujii, Y.; Fujikawa, Y.; Fukunaga, M.; Fukushima, M.; Gao, D.; Ge, G.; Ha, S.; Hagiwara, A.; Haino, S.; Han, W-B; Hasegawa, K.; Hattori, K.; Hayakawa, H.; Hayama, K.; Himemoto, Y.; Hiranuma, Y.; Hirata, N.; Hirose, E.; Hong, Z.; Hsieh, B.; Huang, G-Z; Huang, H-Y; Huang, P.; Huang, Y-C; Huang, Y.; Hui, D. C. Y.; Ide, S.; Ikenoue, B.; Imam, S.; Inayoshi, K.; Inoue, Y.; Ioka, K.; Ito, K.; Itoh, Y.; Izumi, K.; Jeon, C.; Jin, H-B; Jung, K.; Jung, P.; Kaihotsu, K.; Kajita, T.; Kakizaki, M.; Kamiizumi, M.; Kanda, N.; Kang, G.; Kawaguchi, K.; Kawai, N.; Kawasaki, T.; Kim, C.; Kim, J.; Kim, J. C.; Kim, S.; Kim, Y-M; Kimura, N.; Kita, N.; Kitazawa, H.; Kojima, Y.; Kokeyama, K.; Komori, K.; Kong, A. K. H.; Kotake, K.; Kozakai, C.; Kozu, R.; Kumar, R.; Kume, J.; Kuo, C.; Kuo, H-S; Kuromiya, Y.; Kuroyanagi, S.; Kusayanagi, K.; Kwak, Kyujin; Lee, K.; Lee, H. W.; Lee, R.; Leonardi, M.; Li, K. L.; Lin, L. C-C; Lin, F-K; Lin, C-Y; Lin, F-L; Lin, H. L.; Liu, C.; Luo, L-W; Majorana, E.; Marchio, M.; Michimura, Y.; Mio, N.; Miyakawa, O.; Miyamoto, A.; Miyazaki, Y.; Miyo, K.; Miyoki, S.; Mori, Y.; Morisaki, S.; Moriwaki, Y.; Nagano, K.; Nagano, S.; Nakamura, K.; Nakano, H.; Nakano, M.; Nakashima, R.; Nakayama, Y.; Narikawa, T.; Naticchioni, L.; Negishi, R.; Quynh, L. Nguyen; Ni, W-T; Nishizawa, A.; Nozaki, S.; Obuchi, Y.; Ogaki, W.; Oh, J. J.; Oh, K.; Oh, S. H.; Ohashi, M.; Ohishi, N.; Ohkawa, M.; Ohta, H.; Okutani, Y.; Okutomi, K.; Oohara, K.; Ooi, C.; Oshino, S.; Otabe, S.; Pan, K.; Pang, H.; Parisi, A.; Park, J.; Arellano, F. E. Pena; Pinto, I; Sago, N.; Saito, S.; Saito, Y.; Sakai, K.; Sakai, Y.; Sakuno, Y.; Sato, S.; Sato, T.; Sawada, T.; Sekiguchi, T.; Sekiguchi, Y.; Shao, L.; Shibagaki, S.; Shimizu, R.; Shimoda, T.; Shimode, K.; Shinkai, H.; Shishido, T.; Shoda, A.; Somiya, K.; Son, J.; Sotani, H.; Sugimoto, R.; Suresh, J.; Suzuki, T.; Tagoshi, H.; Takahashi, H.; Takahashi, R.; Takamori, A.; Takano, S.; Takeda, H.; Takeda, M.; Tanaka, H.; Tanaka, K.; Tanaka, T.; Tanioka, S.; San Martin, E. N. Tapia; Telada, S.; Tomaru, T.; Tomigami, Y.; Tomura, T.; Travasso, F.; Trozzo, L.; Tsang, T.; Tsao, J-S; Tsubono, K.; Tsuchida, S.; Tsutsui, T.; Tsuzuki, T.; Tuyenbayev, D.; Uchikata, N.; Uchiyama, T.; Ueda, A.; Uehara, T.; Ueno, K.; Ueshima, G.; Uraguchi, F.; Ushiba, T.; van Putten, M. H. P. M.; Vocca, H.; Wang, J.; Washimi, T.; Wu, C.; Wu, H.; Wu, S.; Xu, W-R; Yamada, T.; Yamamoto, K.; Yamamoto, T.; Yamashita, K.; Yamazaki, R.; Yang, Y.; Yokogawa, K.; Yokoyama, J.; Yokozawa, T.; Yoshioka, T.; Yuzurihara, H.; Zeidler, S.; Zhan, M.; Zhang, H.; Zhao, Y.; Zhu, Z-H | ARTICLE | 636 |
| 2021-05 | Overview of KAGRA: Detector design and construction history | Akutsu, T.; Ando, M.; Arai, K.; Arai, Y.; Araki, S.; Araya, A.; Aritomi, N.; Aso, Y.; Bae, S.; Bae, Y.; Baiotti, L.; Bajpai, R.; Barton, M. A.; Cannon, K.; Capocasa, E.; Chan, M.; Chen, C.; Chen, K.; Chen, Y.; Chu, H.; Chu, Y-K; Eguchi, S.; Enomoto, Y.; Flaminio, R.; Fujii, Y.; Fukunaga, M.; Fukushima, M.; Ge, G.; Hagiwara, A.; Haino, S.; Hasegawa, K.; Hayakawa, H.; Hayama, K.; Himemoto, Y.; Hiranuma, Y.; Hirata, N.; Hirose, E.; Hong, Z.; Hsieh, B. H.; Huang, C-Z; Huang, P.; Huang, Y.; Ikenoue, B.; Imam, S.; Inayoshi, K.; Inoue, Y.; Ioka, K.; Itoh, Y.; Izumi, K.; Jung, K.; Jung, P.; Kajita, T.; Kamiizumi, M.; Kanda, N.; Kang, G.; Kawaguchi, K.; Kawai, N.; Kawasaki, T.; Kim, C.; Kim, J. C.; Kim, S.; Kim, Y-M; Kimura, N.; Kita, N.; Kitazawa, H.; Kojima, Y.; Kokeyama, K.; Komori, K.; Kong, K. H.; Kotake, K.; Kozakai, C.; Kozu, R.; Kumar, R.; Kume, J.; Kuo, C.; Kuo, H-S; Kuroyanagi, S.; Kusayanagi, S.; Kwak, K.; Lee, H. K.; Lee, H. W.; Lee, R.; Leonardi, M.; Lin, L. C-C; Lin, C-Y; Lin, F-L; Liu, C.; Luo, L-W; Marchio, M.; Mio, N.; Michimura, Y.; Miyakawa, O.; Miyamoto, A.; Miyazaki, Y.; Miyo, K.; Miyoki, S.; Morisaki, S.; Moriwaki, Y.; Nagano, K.; Nagano, S.; Nakamura, K.; Nakano, H.; Nakano, M.; Nakashima, R.; Narikawa, T.; Negishi, R.; Ni, W-T; Nishizawa, A.; Obuchi, Y.; Ogaki, W.; Oh, J. J.; Oh, S. H.; Ohashi, M.; Ohishi, N.; Ohkawa, M.; Okutomi, K.; Oohara, K.; Ooi, P.; Oshino, S.; Pan, K.; Pang, H.; Park, J.; PenaArellano, F. E.; Pinto, I; Sago, N.; Saito, S.; Saito, Y.; Sakai, K.; Sakai, Y.; Sakuno, Y.; Sato, S.; Sato, T.; Sawada, T.; Sekiguchi, T.; Sekiguchi, Y.; Shibagaki, S.; Shimizu, R.; Shimoda, T.; Shimode, K.; Shinkai, H.; Shishido, T.; Shoda, A.; Somiya, K.; Son, E. J.; Sotani, H.; Sugimoto, R.; Suzuki, T.; Tagoshi, H.; Takahashi, H.; Takahashi, R.; Takamori, A.; Takano, S.; Takeda, H.; Takeda, M.; Tanaka, H.; Tanaka, K.; Tanioka, S.; San Martin, E. N. Tapia; Telada, S.; Tomaru, T.; Tomigami, Y.; Tomura, T.; Travasso, F.; Trozzo, L.; Tsang, T.; Tsubono, K.; Tsuchida, S.; Tsuzuki, T.; Tuyenbayev, D.; Uchikata, N.; Uchiyama, T.; Ueda, A.; Uehara, T.; Ueno, K.; Ueshima, G.; Uraguchi, F.; Ushiba, T.; van Putten, M. H. P. M.; Vocca, H.; Wang, J.; Wu, C.; Wu, H.; Wu, S.; Xu, W-R; Yamada, T.; Yamamoto, K.; Yokogawa, K.; Yokoyama, J.; Yokozawa, T.; Yoshioka, T.; Yuzurihara, H.; Zeidler, S.; Zhao, Y.; Zhu, Z-H | ARTICLE | 403 |
