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Issue DateTitleAuthor(s)TypeView
2016-04-28Development of Accelerated Life Test for Modules of Semiconductor Equipment박주영; 신인선; 권대일CONFERENCE25
2017-08-09전자 기기의 고장 예측 장치 및 이를 이용한 고장 예측 방법박주영; 권대일; 울산과학기술원Patent404
2015-02-27향상된 신뢰성 예측을 위한 최적 중도절단시험 계획권대일; 신인선; 박주영CONFERENCE30
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