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- Choi, EunMi
- THz Vacuum Electronics and Applied Electromagnetics Lab.
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Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.assignee | 울산과학기술원 | - |
| dc.contributor.author | 최문석 | - |
| dc.contributor.author | 최은미 | - |
| dc.date.accessioned | 2024-01-23T19:06:07Z | - |
| dc.date.application | 2017-12-11 | - |
| dc.date.available | 2024-01-23T19:06:07Z | - |
| dc.date.registration | 2019-12-30 | - |
| dc.description.abstract | 실시 예는 반도체 시료에 상기 반도체 시료의 밴드갭 이상의 에너지를 갖는 여기광을 조사하는 여기광원; 100GHz 내지 1THz의 광을 생성하는 광원; 상기 광을 가우시안 빔으로 변조하는 제1 안테나; 상기 가우시안 빔을 상기 반도체 시료에서 상기 여기광이 조사된 영역으로 제공하는 미러부; 상기 미러부를 통과한 가우시안 빔이 통과하며 상기 가우시안 빔의 왜곡을 감소시키는 제2 안테나; 및 상기 제2 안테나를 통과한 상기 가우시안 빔의 강도를 검출하는 검출부;를 포함하는 준광학 밀리미터 및 테라헤르츠파를 이용한 반도체 캐리어 수명 측정 장치를 개시한다. | - |
| dc.identifier.patentApplicationNumber | 10-2017-0169292 | - |
| dc.identifier.patentRegistrationNumber | 10-2062701 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholarworks.unist.ac.kr/handle/201301/70326 | - |
| dc.title.alternative | measuring device of the carrier lifetime of semiconductor using quasi-optical millimeter and terahertz and method thereof | - |
| dc.title | 준광학 밀리미터 및 테라헤르츠파를 이용한 반도체 캐리어 수명 측정 장치 및 그 방법 | - |
| dc.type | Patent | - |
| dc.publisher.country | KO | - |
| dc.type.iprs | 특허 | - |
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